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大为通信 plc多路无源器件损耗分析仪, plc多通道器件测试系统

大为通信 plc多路无源器件损耗分析仪, plc多通道器件测试系统

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仪表 - 光学仪器
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详细介绍

产品简介: 多通道测试系统采用进口偏振控制器,通过驱动器提供4路直流电压,电压在+5v到-5v范围内变化,用来动态控制单模光纤产生各种偏振态。无需复位,大于100hz的响应速度可以确保偏振控制器能够很好地控制偏振态补偿外部温度、应力的影响。主要用于光器件pmd、pdl测试。 系统特点: ?整机外观美观大方,测试方便,友好的人机界面。 ?当系统与测试器件连接好以后,点击开始测试按钮,系统自动对多路器件扫描测试,无需手动测试。 ?测试结果会自动计算存储到数据库、生成excel等格式文本。 ?可以事先设置好指标门限阈值,测试完成后直接筛选出低于门限的指标,并生成报表。 ?智能化查询、导出测试结果,操作简单、实用。 ?实现无纸化测试,大大提高了器件的生产、测试效率。 ?具有打印功能,直接打印测试记录、产品标签。 ?使用便捷、高效率、高性价比。 技术指标: 光源波长 1310nm、1490nm、1550nm(或其它可选) 测试模式 单模 测试项目 插入损耗(il)、偏振相关损耗(pdl) 光功率测试范围 -70~+3dbm 光功率测试准确度 ±0.02db il测试准确度 ±0.01db pdl不确定度 ±0.04db pdl重复性 ±0.01db 分辨率 0.01db 测试通道 8通道(可扩展) 光输入输出接口 fc/sc/st可选 通信接口 rs232 电源 ac220v
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